國產(chǎn)電鏡(國產(chǎn)掃描電鏡)SEM2000是一款基礎款的多功能分析性鎢燈絲掃描電鏡。20 kV分辨率可以做到3.9 nm，支持升級30 kV電壓，可觀察亞微級尺度樣品的微觀結構信息。擁有比臺式電鏡更大的移動范圍，適用于快速篩選待測樣品，更多的擴展接口，可搭載BSED、EDS等附件，使應用領域更廣。
純中文的操作界面
功能設計簡單易操作。符合國人使用習慣，即使是新手用戶，簡單了解后也能快速上手。
完善的自動化功能
自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散，均可一鍵調(diào)節(jié)，提高工作效率。
豐富的測量工具
長度、面積、圓度、角度等測量功能強大的照片管理和預覽、編輯功能。
特色功能
光學導航
想看哪里點哪里，導航更輕松
標配光學導航攝像頭，可拍攝高清樣品臺照片，快速定位樣品。
防撞設計
對新手更友好的防碰撞設計，最大限度保護敏感單元。
一鍵成像
*軟件一鍵成像，新手也能輕松駕馭。
分析距離
最佳分析距離和成像距離二合一，輕松體驗優(yōu)質性能。
SEM2000軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像。可同時觀察到樣品的形貌信息和成分信息。
SE：3.9 nm @20 kV
BSE：4.5 nm @ 20 kV
豐富的擴展性
高靈敏度背散射探測器
· 多通道成像
探測器設計精巧，靈敏度高，采用4分割設計，無需傾斜樣品，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。
四個單通道的陰影像
成分像
二次電子成像和背散射電子成像對比
背散射電子成像模式下，荷電效應明顯減弱，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。
能譜
金屬夾雜物能譜面掃分析結果。
電子背散射衍射
鎢燈絲電鏡束流大，滿足高分辨EBSD的測試需求，能夠對金屬、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。 該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖，能夠識別晶粒大小和取向，判斷晶界和孿晶，對材料組織結構進行精確判斷。
應用案例
國儀量子國產(chǎn)鎢燈絲掃描電子顯微鏡助力更好的科研工作生活！
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